赛默斐视薄膜表面瑕疵检测系统专业供应
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赛默斐视薄膜表面瑕疵检测系统专业供应
赛默斐视SIMV——薄膜表面缺陷在线检测系统
应用背景——在薄膜的实际生产过程中，由于各方面因素的影响，薄膜表面会出现诸如孔洞、蚊虫、黑点、晶点、划伤、斑点等瑕疵，严重影响了薄膜的质量，给生产商带来了不必要的损失。人眼往往不能及时准确的判断出瑕疵，赛默斐视SIMV薄膜表面瑕疵在线检测系统能在线对生产过程中产生的表面缺陷瑕疵进行高速、精确的检测，显示和识别薄膜表面上的所有表面缺陷。能检测分别出直径 0.01mm-2mm的脏污点、条纹、破损、边缘裂缝、皱折、暗斑、亮斑、边缘破损、黑点疵点、毛发，蚊虫，等常见表面缺陷。强大的表面缺陷模式识别功能，根据表面缺陷的特征，在报警的同时，会指出导致该表面缺陷的设备、工艺问题所在，指导工人及时处理，从而有效的节约了生产成本、提高了产品质量。因此薄膜瑕疵在线检测系统成为高速薄膜生产线中不可或缺的检测设备。
赛默斐视SIMV--薄膜表面缺陷在线检测系统检测原理:
针对透光率高的薄膜材料，系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄（对于不透明的材料则采用反射的打光方式，即光源与相机在所要检测面的同一侧）。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过SIMV图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。
赛默斐视SIMV--薄膜表面缺陷在线检测系统技术参数:
检测对象：保护膜、涂布膜、PE膜、食品包装膜、太阳能薄膜、光学膜等等
典型瑕疵：晶点、黑点、蚊虫、污点、线条、破洞等
检测速度：Max：800m/min
检测幅宽：任意（根据生产线定制）
检测精度：0.1mm~1mm(取决于相机数量、产线幅宽及车速)
瑕疵标识：自动声光报警、截取当前瑕疵图片及实时X/Y坐标瑕疵分布图显示
历史记录：根据批次号自动记录每一卷薄膜瑕疵的图片、大小、分布位置等信息
无锡赛默斐视科技有限公司成立于2014年，是一家专注于提供性能稳定、易于使用的机器视觉系统的研发公司。公司致力于提供工业机器视觉设备并在视觉设备及工业控制领域积累了丰富的开发设计经验。欢迎大家致电咨询洽谈相关业务需要。
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